二維掃描平臺主要由鋁合金支架、電機XI、電機Y1、電機 Z1、電機X2、電機Y2、電機Z2、電機控制器、樣品支架、 探頭1、探頭2組成，可以進行太赫茲透射譜、反射譜、反射 成像、透射成像的測量。
其中，樣品支架用于放置待測樣 品，電機XI、電機Y1用于控制探頭1進行X、Y兩個方向的平 移，電機X2、電機Y2用于控制探頭2進行X、Y兩個方向的平移，電機Z1、電機Z2分別可對探頭1、探頭2進行調焦，從而 適應不同的樣品厚度。